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X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪

产品系列

PRODUCT SERIES
X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪-2
X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪-3
X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪-1

X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪

XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化,广泛应用于诊断材料的局域特性,例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。
所属分类:
X射线光谱分析
400-8877-750 sales@specreation.com
X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪-2
X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪-3
X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪-1
产品介绍
设备特点
应用简介
XAFS谱

XANES

X射线吸收近边结构光谱

测量特定原子吸收边前约10eV至吸收边后约50eV范围的光谱

EXAFS
扩展X射线吸收精细结构光谱

测量原子吸收边后50eV至1000eV范围的光谱

产品介绍 Introduction

1

Table XAFS- 500谱仪系统采⽤罗兰圆结构和⼤尺⼨弯晶元件,利⽤常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量,在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS⾃由。

产品特点 Product Features

● ⽀持近边快扫功能
● 不同样品、不同测量模式⼀键⾃动切换
● ⽀持原位测试等扩展功能
● 远程数据传输,实时显⽰实验进程和结果⽀持⽆⼈值守测试
● ⼈体⼯学⾼度设计,操作更便捷
● 专业的应⽤技术⽀持和数据分析⽀持
● 内置专利软件,实验参数预置,实现快速测量
● 仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁,保证⼈⾝和使⽤安全

主要参数 Technical Parameter

能量范围 4.5~20keV
能量分辨率 0.5~1.5 eV(7~9keV,近边)
X射线光源 1.2~1.6kW闭管
光通量 1×106~2×106photons/sec@9keV
单⾊器晶体 直径100mm,球面半径500mm(Si/Ge)
探测器 SDD探测器
⾃动样品轮 16工位

测试数据 Test Data

低浓度样品数据展⽰
1 1 1
Zr-K边(⾼能元素)测试的谱图 ⾼能量分辨识别近边精细结构  
1 1 1
1 1 1

 

应用领域 Applications

 

新能源 催化 环境科学 材料科学 生命科学

 

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