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桌面式X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪TableXAFS-500

产品系列

PRODUCT SERIES
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桌面式X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪TableXAFS-500

XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化,广泛应用于诊断材料的局域特性,例如核心原子的价态、配 位数、位形与键长。
400-8877-750 sales@specreation.com
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产品介绍
设备特点
应用简介

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XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化,广泛应用于诊断材料的局域特性,例如核心原子的价态、配位数、位形与键长。

产品介绍 Product Introduction

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TableXAFS-500谱仪系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件,利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量,在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。

产品特点 Features 

  • 支持原位测试等扩展功能;
  • 小型化桌面式设计,使用成本低;
  • 安全防护联锁,无辐射安全隐患;
  • 数据分析及解读,出具专业的分析报告;
  • 远程数据传输,实时查看实验进程和结果;
  • 一键快速测量,单次仅需30min,高效便捷;
  • 具有8位样品架,可自动换样,提高测量效率;
  • 采用大口径晶体,具有更高收光效率和信噪比;
  • 高能谱分辨,获得与同步辐射接近的吸收谱数据;
  • 高精度、高稳定性扫描机构,提高分辨率及数据准确度。

主要参数 Parameters

探测器 SDD探测器
能量分辨率 0.5~1.5eV(7~9keV,近边)
X射线光源 1.2~2.0 kW X射线光管,靶材可订制
光通量 2×105~2×106 photons/sec @7~9keV
能量范围 4.5~20keV,可拓展至25keV(单次扫描范围>600eV@7~9keV)
单色器晶体 口径102mm,半径500mm球面Si或Ge弯晶

 

应用领域 Application

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测试数据 Test Data

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