产品系列
PRODUCT SERIES
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产品介绍
设备特点
应用简介
XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化,广泛应用于诊断材料的局域特性,例如核心原子的价态、配位数、位形与键长。
产品介绍 Product Introduction
TableXAFS-500谱仪系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件,利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量,在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。
产品特点 Features
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主要参数 Parameters
探测器 | SDD探测器 |
能量分辨率 | 0.5~1.5eV(7~9keV,近边) |
X射线光源 | 1.2~2.0 kW X射线光管,靶材可订制 |
光通量 | 2×105~2×106 photons/sec @7~9keV |
能量范围 | 4.5~20keV,可拓展至25keV(单次扫描范围>600eV@7~9keV) |
单色器晶体 | 口径102mm,半径500mm球面Si或Ge弯晶 |
应用领域 Application
测试数据 Test Data
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