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X射线Von Hamos检测实验站

X射线Von Hamos检测实验站

X射线Von Ham os检测实验站主要包含: 三元分析晶体调节机构、探测器调节机构和样品调节机构,系统安装在真空腔体内,通过波长色散获得特征谱,用于研究元素的组分、价态、自旋态和配体识别等。
所属分类:
实验站系统
400-8877-750 sales@specreation.com
X射线Von Hamos检测实验站
产品介绍
设备特点
应用简介

产品介绍 Product Introduction

主要参数 Technical Parameter

部件 序号 部件名称 技术指标
行程范围 分辨率 重复定位精度
分析晶体
调节机构
I-1 摆角φi ±135° 0.001° 0.002°
1-2 倾角θi ±10° 0.001° 0.002°
I-3 竖直方向平动Zi -30,  190mm 0.5μm 1μm
1-4 垂直光路方向平动Xi -40,  260mm 0.5μm 1μm
探测器
调节机构
I-1 竖直方向平动Zd -25,  375mm 0.5μm 1μm
II-2 光路方向平动Yd ±30mm 0.5μm 1μm
II-3 倾角θd ±135° 0.001° 0.002°
样品台部分 II-1 竖直平动方向Zs ±30mm 0.5μm 1μm
II-2 垂直光路方向平动Xs ±30mm 0.5μm 1μm
II-3 光路方向平动Ys ±30mm 0.5μm 1μm
III-4 摆角Rs ±175° 0.001° 0.002°

测试数据 Test Data

角度分辨率测试
角度重复定位精度测试
平动分辨率测试

 

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