低能X射线吸收谱仪

低能X射线吸收谱仪利用X射线荧光光谱分析(XRF)技术，通过X射线照射到样品上激发荧光,利用Johansson弯晶聚集荧光到探测器上,可探测实时光谱,同时通过弯晶直线运动到不同位置改变 Bragg角,获得全能量段能谱。

所属分类：

X射线光谱分析

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产品介绍

设备特点

应用简介

产品特点 Product Features

●Johansson弯晶+罗兰圆内布置+大光源光斑,覆盖能量范围2- 5keV
●三块晶体覆盖Bragg范围30-65°
●自动样品架，快速自动换样
●采用高精度Johansson晶体,具有高集光效率和信噪比
●专业的应用技术支持和数据分析支持
●软件界面友好,具有较强的交互性及直观性
●高精度、高稳定性能量扫描机构,提高能量分辨率

主要参数 Technical Parameter

探测器	面阵探测器
光源	XRF端窗光源，W靶，100W
单色器晶体	25mm×25mm,半径R100mm的Johansson弯晶
主要晶体类型	Si(111)、Si(220)、α石英晶体
能量范围	2-5keV
系统真空度	5×10^-3Pa