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c2

透射式晶体谱仪

透射弯晶谱仪,利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置,同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征,特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断。
所属分类:
X射线光谱仪器
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c2
产品介绍
设备特点
应用简介

产品介绍/ INTRODUCTION

透射弯晶谱仪,利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置,同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征,特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断。

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产品特点/ CHARACTERISTIC

● ⾃主弯晶器件

● ⾼能谱分辨

● 宽能谱范围

● 可切换式探测模组

● 全谱直读

● 可切换式激光准直系统

主要参数/ PARAMETERS

● 光学系统结构: 透射弯晶系统

● 分光器件: α-Quartz<10-11>

● 能量分辨率: 优于100eV@20keV

● 探测器类型: 可切换式IP板

● 激光器切换重复精度: ±10μm

测试数据/ TEST DATA

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选配范围(⽀持定制)

光谱仪型号 特点 能量范围 分光器件 分辨率
xSpeC-Laue-1 常规款 10-100keV a-Quartz<10-11> 优于100eV@20kev
xSpeC-Laue-2 高分辨 20-120keV a-Quartz<10-11> 优于50eV@20keV
xSpeC-Laue-3 紧凑型 20-80keV a-Quartz<10-11> 优于100eV@20keV

 

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