产品系列
PRODUCT SERIES
分类出来
角分辨光电子能谱（ARPES）装置
采用高亮度、高单色性的UV、EUV、激光作为激发光源，获得材料的ARPES谱图，精确表征动量空间中的能带结构
原子电子结构分析仪
原子电子结构分析仪采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量，在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。
弯晶器件
晶体是X射线波段分光的唯⼀器件，晶体与能量满足布拉格方程，通过转动晶体⻆度可以实现不同能量的扫描和选择。常规生产的晶体通常是平⾯的，具备分光能力但无法成像，通过特殊工艺可以将晶体弯曲，从而可以增加晶体器件的成像功能，同时提⾼仪器的收光效率，具有广泛的应用。
透射式晶体谱仪
透射弯晶谱仪，利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置，同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征，特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断。
球面弯晶谱仪
球面弯晶谱仪，使用球面弯晶作为衍射分光元件，可以实现⼀维分光，⼀维聚焦成像，广泛应用于软X射线波段 (0.5- 15keV) 的光谱探测，可同时实现很高的亮度和高能谱分辨。
Von Hamos柱面弯晶谱仪
Von Hamos柱面弯晶谱仪采⽤柱面弯晶对弧矢方向光束进行聚焦，子午方向⾊散分光，该谱仪具有高分辨率和高效率等特点，同时可以通过晶体的扫描或多通道模式，获得较宽的测谱范围。
椭圆柱面弯晶谱仪
椭圆柱面弯晶谱仪，以椭圆柱面弯晶为分光与聚焦元件，光源点和狭缝分别位于椭圆的两个焦点上，X光通过弯晶后汇聚于狭缝处，并在狭缝后的⼀定范围内使用探测器实现能谱测量，系统具有能量范围宽、能量分辨高和效率高等特点。
磁谱仪
磁谱仪采用⼀体化设计，由辐射屏蔽体、散射体、电子准直管、磁铁、探测器等组成。高能X射线经过散射体转换变成电信号，不同能量的电子经过磁场偏转半径不同，通过对电信号的测量从而可以反推入射X光的能量及其强度。
滤片堆栈谱仪
滤片堆栈谱仪，通过堆叠成串的不同材料的滤片和记录介质将轫致辐射衰减、记录其强度，然后通过谱仪的响应函数来反解轫致辐射能谱。谱仪主要由准直部件、滤⽚腔、铅屏蔽、瞄准器和结构⽀撑件组成，通过11种不同类型的⾦属滤片，实现0.1MeV- 10MeV的能量范围覆盖。
平场光谱仪
平场光谱仪，采用全息凹球面变线距光栅进行分光，具有平场特性，便于使用面阵CCD记录光谱。光栅工作在掠入射模式下，衍射效率高，同时通过选用不同的光栅型号，可以实现波长范围0.6~200nm的全覆盖。
上一页
1
2
…
5
下一页
4008877750
点击咨询 
