产品系列
PRODUCT SERIES
分类出来
产品介绍
设备特点
应用简介
XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、配位数、位形与键长。
产品介绍 Product Introduction
SpecXAFS-Lite谱仪系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量，在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。
产品特点 Features
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主要参数 Parameters
| 能量范围 | 5~12 keV |
| X射线光源 | 2.0 kW Mo 或 1.2 kW Ag 靶侧窗 X 射线管 |
| 能量分辨率 | ΔE/E=2.0~5.0×10⁻⁴@7~9 keV |
| 光通量 | 样品处 ≥3×106 photons/s/mA@7~9 keV |
| 测试模式 | XAFS 模式，8 位自动样品轮 |
| 探测器 | 硅漂移探测器，吸收层面积 ≥70 mm²，最大输入计数率 1000 kcps |
应用领域 Application
测试数据 Test Data
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