产品系列
PRODUCT SERIES
分类出来
角分辨光电子能谱（ARPES）装置
采用高亮度、高单色性的UV、EUV、激光作为激发光源，获得材料的ARPES谱图，精确表征动量空间中的能带结构
原子电子结构分析仪
原子电子结构分析仪采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量，在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪
XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。
低能X射线吸收谱仪
低能X射线吸收谱仪利用X射线荧光光谱分析(XRF)技术，通过X射线照射到样品上激发荧光,利用Johansson弯晶聚集荧光到探测器上,可探测实时光谱,同时通过弯晶直线运动到不同位置改变 Bragg角,获得全能量段能谱。
晶体定向仪
高精度二维晶体定向仪利用X射线衍射(XRD)原理, 通过测量晶体绕法线转动到不同方位角的Bragg角变化,反演局部晶体表面与镜面夹角△θ,并通过二维扫描实现对整个晶体面△θ的描绘,最终实现二维，晶体面型误差的检测。
电化学原位池H型
电化学原位池H型是为开展桌⾯XAFS谱仪实验或同步辐射XAFS实验⽽设计的⼀款原位实验装置。该原位池主要应⽤于XAFS透射模式。配备Kapton膜窗⼝，采⽤三电极设计，液层厚度可调。配备有离⼦交换膜，可以实现H型电极的功能。能兼容强酸/强碱电解液，可以开展各种电化学实验。
电化学原位池
电化学原位池是为开展桌面XAFS谱仪实验或同步辐射XAF S实验而设计的一款原位实验装置。该原位池主要应用于XAFS透射模式。配备Kapton膜窗口,采用三电极设计,液层厚度可调。能兼容强酸/强碱电解液,可以开展各种电化学实验。
高温原位池
高温原位池为开展气固原位XAFS实验而设计。可以在原位环境开展高温下的费托合成等各种高温气体催化反应。原位池配备有Kapton膜窗口,可以应用于XAFS透射模式;配备加热电阻水冷系统及控制系统,实现最高500°C的高温环境。
真空紫外分光光度计
紫外分光光度计主要是⽤氘灯作为光源，发出的光在真空下经过收光系统聚焦到单⾊器，经单⾊器分光扫描选择出需要的单⾊光，再聚焦到样品处。系统采⽤双PMT探测器采集信号，然后通过专业分析软件对采集的光谱信号进⾏对⽐分析，测量出样品的吸收谱，从⽽表征样品特性。
极紫外偏振检测系统
偏振检测系统是利用薄膜对极紫外光的反射率和相位延时特性,进行光源偏振性准确测量的专用设备,其核心器件是检偏器。可以通过旋转检偏器获取不同角度下的能量信息,结合理论分析,获得椭圆偏振光的总光强、长轴和短轴的信息。
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